一般而言，芯片（IC）泛指所有的半导体元器件，是在硅板上集合多种电子元器件实现某种特定功能的电路模块。它是电子设备中最重要的部分，承担着运算和存储的功能。

温度的改变对半导体的导电能力、极限电压、极限电流以及开关特性以及开关特性等都有很大的影响。当温度过高时元器件体积发生膨胀、挤压，半导体芯片可能因为挤压产生裂纹报废。如果温度过低，往往会造成芯片在额定工作电压下无法打开其内部的半导体开关，导致其不能正常工作。

所以在芯片生产过程中需要对其进行冷热冲击试验。一般情况下，民用芯片的正常温度范围是0℃-70℃，军用芯片性能更高，正常工作温度范围是-55℃-125℃。

冷热冲击试验箱(高低温冲击试验箱)可以为电子芯片提供几秒内温度骤变的环境，,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害。冷热冲击试验箱经常被用来做适应性试验及对电子元器件的安全可靠性试验和产品筛选。