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X荧光光谱仪无卤分析,高效率检测!
文章出处:台硕仪器      作者:Kim       发表时间:2022-07-26 15:15:12

近年来,X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域,特别是在RoHS检测领域应用得多也广泛。大多数分析元素均可用其进行分析,可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品,分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。

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X荧光光谱仪606系列ROHS无卤分析仪用于快速测量分析仪电子电机产品中如Cd/Pb/Hg等有害物质含量的仪器,具有轻便、操作简单等优点。

1、采用原装电致冷高性能SI-PIN探测器, 分辨率高, 探测范围宽, 涵盖ROHS、卤素、镀层、合金(含贵金属)及各种常规材料分析的基本要求。

2、配置先进的DPP数字多道信号集成处理器, 比普通模拟多道信号处理器性能佳, 尤其在高计数率时分辨率高(如HG和CI等) 高达80MHZ的数据传输速度使分析时间变短,尤其在测量重复性和长期稳定性上有提高。

3、置高清摄像系统清晰观察样品,准确定位样品测试区域。

4、配套FP测量软件,集成多种谱图处理算法和基体校正算法,有效降低仪器测量中的各种干扰谱峰,使低含量和痕量元素的检测结果趋近准确,更加接近真值水平。



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