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大拼接闪测仪

产品特点

项目参数型号TSE-432TSE-542测量范围拼接范围400*300mm500*400mm单视野82*55mm82*55mmZ轴移动范围200mm测量精度有拼接±(4.5+L/150)μm±(4.5+L/150)μm无拼接±3μm±3μm*标准件为被测产品光学镜头双远心光学镜头图像传感器2000万像素软件基于机器学习的图像轮廓匹配算法亚像素精度几何测量算法非线性光学系统畸变校

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技术参数

项目		参数
型号		TSE-432	TSE-542
测量范围	拼接范围	400*300mm	500*400mm
	单视野	82*55mm	82*55mm
Z轴移动范围		200mm
测量精度	有拼接	±(4.5+L/150)μm	±(4.5+L/150)μm
	无拼接	±3μm	±3μm
		*标准件为被测产品
光学镜头		双远心光学镜头
图像传感器		2000万像素
软件		基于机器学习的图像轮廓匹配算法
		亚像素精度几何测量算法
		非线性光学系统畸变校正算法
		多核、多 CPU、GPU 等图像加速处理算法
外形尺寸		1100mm * 690mm * 1800mm	1200mm * 790mm * 1800mm
电源		AC 220V±10% 50Hz
环境要求		温度(T)：20±2℃；相对湿度(RH)：30--80%