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光学影像仪,认准上海台硕检测仪器,影像测量

时间:2019-06-05 作者:台硕检测仪器 阅读数:641 分享
光学影像仪,认准上海台硕检测仪器,影像测量仪使用过程中相关标准

1、环境条件
 
    不论是3D影像测量仪,2D影像测量仪还是2.5D影像测量仪,在验收和使用时,至少应对下列影响影像测量仪准确度的环境条件参数加以控制:
    ——仪器测量室的温度、单位时间内的温度变化及相对湿度;
    ——仪器在测量室平衡温度的时间;
     ——仪器与标准器具的温度差等。
 
    上述条件参数:验收检测由制造商规定;复检检测由用户规定。用户可在给定的范围内随意选择环境条件。
 
    影像测量仪的测量室内应无影响测量的灰尘、噪音、震动、腐蚀性气体和较强磁场。
 
    注:当检测条件不满足供应商给定的条件时,供应商可能给出更大的允许误差。特别注意:
   a)仪器启动/预热循环;
   b)测量系统标定;
   c)  影像系统放大倍数;
   d)  照明。
 
2、影像测量仪性能要求
 
    本标准允许各种影像测量仪有其自己的功能定义,因此也允许在检测参数的选择上有某些灵活性。各项性能要求:
    ——验收检测由制造商规定;
    ——复检检测由用户规定。
 
 
 
    长度测量示值误差、截面原点一致性误差
 
1)对在垂直于平面直角坐标系Z方向上具有测量功能的影像测量仪,下列性能要求不应超过其最大允许误差:
 
2)对在垂直于平面直角坐标系Z方向上具有定位功能的影像测量仪和只能在任何二维平面内作测量的影像测量仪,下列性能要求不应超过其最大允许误差:
 
3)上述性能要求的误差及其最大允许误差用微米表示。
 
    探测误差。探测误差EP2D的检测应当包括机器运动和视场的整个可用部分;探测误差EP2D不应超过探测误差的最大允许误差,探测误差和其最大允许误差用微米表示。
 
    成像误差。成像误差EO的检测应当包括视场的全部有效区域;成像误差EO不应超过其最大允许误差,成像误差和其最大允许误差用微米表示。
 
    影像分辨力应满足说明书规格中给出的指标。
 
3、测量系统配置
 
    对于给定的最大允许误差,影像系统配置(放大倍数、变焦水平、照明、物镜等)的限制条件:
    ——验收检测由制造商规定;
    ——复检检测由用户规定。
    用户可在限定的范围内随意选择探测系统的配置。
 


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